| 名稱 | SM-5KZ匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀 |
| 型號 | |
| 報(bào)價 | 15000 |
| 特點(diǎn) | 根據(jù)我國GB14711-93《中小型旋轉(zhuǎn)電機(jī)安全通用要求》標(biāo)準(zhǔn)、GB755-87《旋轉(zhuǎn)電機(jī)基本技術(shù)要求》標(biāo)準(zhǔn)及國標(biāo)GBT22714-2008_《交流低壓電機(jī)成型繞組匝間絕緣試驗(yàn)規(guī)范》等標(biāo)準(zhǔn) ，必須對電機(jī)成品半成品進(jìn)行浸漆前后匝間耐壓絕緣試驗(yàn)。} |
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- 詳細(xì)內(nèi)容
SM-5KZ匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀
一 SM-5KZ匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀適用于電機(jī) 因漆包線的絕緣涂敷層本身存在著質(zhì)量問題，以及在繞線 為了提高產(chǎn)品的質(zhì)量和使用壽命 根據(jù)我國GB14711-93《中小型旋轉(zhuǎn)電機(jī)安全通用要求》標(biāo)準(zhǔn) SM-5KZ匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀 SM-5KZ匝間耐壓試驗(yàn)儀是采用脈沖波形比較法，以高壓脈沖對電機(jī)及電器的線圈繞組進(jìn)行等效過電壓模擬試驗(yàn)。通過對儀器顯示波形的觀察、對比與分析，能迅速正確地測定繞組匝間絕緣的好壞。對匝間短路、線圈電暈放電、局部短路、接線錯誤 SM-5KZ匝間耐壓試驗(yàn)儀整機(jī)電子集成化較高，測試波形可在試驗(yàn)儀自帶的示波器上觀測 本儀器是貫徹GB755－87、GB14711－93標(biāo)準(zhǔn)的一種新型儀器 SM-5KZ匝間耐壓試驗(yàn)儀可以檢查以下故障： 匝間絕緣擊穿 電暈放電 繞組接錯、嵌錯線 繞組斷線 匝數(shù)差異 相間對地 可用于單相電機(jī) 二 * SM-5KZ匝間耐壓試驗(yàn)儀就是以上述原理為依據(jù)，采用“脈沖波形比較法”來檢驗(yàn)阻抗對稱，平衡情況的。即將具有一定波前時間和規(guī)定峰值的脈沖電壓交替施加于被試品和參照品后，利用脈沖電壓在兩者中引起的衰減波形的差異來區(qū)別電機(jī)繞組匝間絕緣故障，其差異程度反映了線圈繞組匝間故障嚴(yán)重程度，由于施加的高壓脈沖波前時間短，能量小，故被認(rèn)為是無損試驗(yàn)。 三、主要技術(shù)參數(shù) 峰值電壓：500～5000V連續(xù)可調(diào) 峰值測試誤差≤5%（1kV-5kV） 波形上升時間：0.5μS或0.2μS 工作電源：220V±10% 50HZ 功耗：≤100 W 外形尺寸：48×26×39CM 重量：24Kg 、概述 、變壓器、電器線圈等這些由漆包線繞制的產(chǎn)品。、嵌線、刮線、接頭端部整形、絕緣浸漆、裝配等工序工藝中不慎而引起絕緣層的損傷等，都會造成線圈層間或匝間絕緣層的絕緣強(qiáng)度的下降。從而影響了電器設(shè)備的質(zhì)量和可靠性。，保證部件的漆包線繞組層間或匝間絕緣良好是*的，因而對產(chǎn)品進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)就勢在必行。、GB755-87《旋轉(zhuǎn)電機(jī)基本技術(shù)要求》標(biāo)準(zhǔn)及國標(biāo)GBT22714-2008_《交流低壓電機(jī)成型繞組匝間絕緣試驗(yàn)規(guī)范》等標(biāo)準(zhǔn)，必須對電機(jī)成品半成品進(jìn)行浸漆前后匝間耐壓絕緣試驗(yàn)。 、線圈平衡等各類匝間絕緣故障均有良好的鑒別性能 。 ，峰值電壓可在數(shù)字表上直讀 ，Y軸幅值和X軸掃描速率連續(xù)可調(diào)，整機(jī)具有精度高 、故障率低等特點(diǎn),各項(xiàng)性能和技術(shù)指標(biāo)均達(dá)到*水平 。 ，是提高我國電機(jī)絕緣測試水平和可靠性的*的手段 。 、繞組相間或繞組和鐵芯間局部短路 、三相中小型電機(jī)、微型電機(jī) 、特種電機(jī) 、電動工具電機(jī)、變壓器（包括開關(guān)電源變壓器） 、繼電器及含有電磁線繞組的電器的匝間
、層間絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)。
、測試基本原理
，當(dāng)線圈發(fā)生直接固體短路故障時，會形成短路匝
，將明顯改變線圈的電感
、電容和電阻，對尚有一定絕緣程度的匝間絕緣薄弱點(diǎn)
，在沒有達(dá)到會使薄弱點(diǎn)擊穿而暴露之前，其繞組電感、電阻和電容基本上無明顯變化，因而無法觀察故障。只有當(dāng)試驗(yàn)電壓超過絕緣薄弱點(diǎn)的耐壓值時，才會造成匝間絕緣擊穿，產(chǎn)生火花放電，并伴有放電聲和臭氧，同時明顯改變電感L、電容C和電阻R，因而會改變沖擊試驗(yàn)電壓波在繞組中的衰減振蕩頻率和衰減速率。
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